X-RAY射線的應用
a.使用目的: 金屬材料及零部件、塑膠材料及零部件、電子元器件、電子組件、LED元件等內部的裂紋、異物的缺陷檢測,BGA、線路板等內部位移的分析;判別空焊,虛焊等BGA焊接缺陷,微電子系統和膠封元件,電纜,裝具,塑料件內部情況分析。
b.應用范圍:
1)IC封裝中的缺陷檢驗如:層剝離、爆裂、空洞以及打線的完整性檢驗;
2)印刷電路板制程中可能產生的缺陷,如:對齊不良或橋接以及開路;
3)SMT焊點空洞現象檢測與量測;
4)各式連接線路中可能產生的開路,短路或不正常連接的缺陷檢驗;
5)錫球數組封裝及覆芯片封裝中錫球的完整性檢驗;
6)密度較高的塑料材質破裂或金屬材質空洞檢驗;
7)芯片尺寸量測,打線線弧量測,組件吃錫面積比例量測